P Jenis M12 Monocrystalline Solar Wafer

P Jenis M12 Monocrystalline Solar Wafer
pengenalan produk:
Pada tahun 2019, M12 (210mm x 210mm) p-Type mono wafer (295mm diameter silikon ingot) telah dilekatkan. Format 6" M2 (156.75mm x 156.75mm) dijangka diletakkan oleh M12 dan M6.
Hantar pertanyaan
Berbual sekarang
Description/kawalan
Parameter teknikal


158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


Pada tahun 2019, M12 (210mm x 210mm) p-Type mono wafer (295mm diameter silikon ingot) telah dilekatkan. Format 6" M2 (156.75mm x 156.75mm) dijangka diletakkan oleh M12 dan M6.


1      Sifat bahan

 

Hartanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Kaedah pertumbuhan

CZ


Kristalliniti

Monocrystalline

 

Teknik Etch keutamaanASTM F47-88

Jenis kekeliritian

Jenis P

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant

 

Boron, Gallium

 

-

Kepekatan oksigen[Oi]

≦8E+17 at/cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Kepekatan karbon[Cs]

5E+16 at/cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Ketumpatan lubang Etch (ketumpatan dislocation)

500 sm-3

Teknik Etch keutamaanASTM F47-88

Orientasi permukaan

<100>±3°

Kaedah Perencanaan X-ray (ASTM F26-1987)

Orientasi sisi persegi pseudo

<010>,<001>±3°

Kaedah Perencanaan X-ray (ASTM F26-1987)

 

2      Sifat elektrik

 

Hartanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Rintangan

0.5-1.5 Ωcm

Sistem pemeriksaan wafer

MCLT (seumur hidup pembawa minoriti)

50 μs

Sinton BCT-400

(dengan tahap suntikan: 1E15 Cm-3)

 

3      Geometri

 

Hartanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Geometri

Dataran penuh


Panjang sisi wafer

210±0.25 mm

sistem pemeriksaan wafer

Wafer Diameter

φ295±0.25 mm

sistem pemeriksaan wafer

Sudut antara sisi bersebelahan

90° ± 0.2°

sistem pemeriksaan wafer

Ketebalan

18020/10 μm;

17020/10 μm

sistem pemeriksaan wafer

TTV (Jumlah ketebalan variasi)

27 μm

sistem pemeriksaan wafer


 210mmx210mm M12 monocrystalline silicon solar wafer

 

 

4      Sifat permukaan

 

Hartanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Kaedah memotong

Dw

--

Kualiti permukaan

seperti dipotong dan dibersihkan, tiada pencemaran yang kelihatan, (minyak atau gris, cetakan jari, kotoran sabun, kotoran bubur, kotoran epoksi / gam tidak dibenarkan)

sistem pemeriksaan wafer

Lihat markah / langkah

≤ 15μm

sistem pemeriksaan wafer

Tunduk

≤ 40 μm

sistem pemeriksaan wafer

Meledingkan

≤ 40 μm

sistem pemeriksaan wafer

Cip

kedalaman ≤0.3mm dan panjang ≤ 0.5mm Max 2/pcs;   tiada V-cip

Mata kasar atau sistem pemeriksaan wafer

Retak mikro / lubang

Tidak dibenarkan

sistem pemeriksaan wafer




 

Cool tags: p jenis m12 monocrystalline solar wafer, China, pembekal, pengeluar, kilang, dibuat di China

Hantar pertanyaan
Bagaimana untuk menyelesaikan masalah kualiti selepas jualan?
Ambil gambar masalah dan hantar kepada kami. Selepas mengesahkan masalah, kami
akan membuat penyelesaian yang memuaskan untuk anda dalam masa beberapa hari.
hubungi kami