P Jenis M12 Monocrystalline Solar Wafer

P Jenis M12 Monocrystalline Solar Wafer

Pada tahun 2019, M12 (210mm x 210mm) p-Type mono wafer (295mm diameter silikon ingot) telah dilekatkan. Format 6" M2 (156.75mm x 156.75mm) dijangka diletakkan oleh M12 dan M6.
Share to
Hantar pertanyaan
Berbual sekarang
Description/kawalan
Parameter teknikal


158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


Pada tahun 2019, M12 (210mm x 210mm) p-Type mono wafer (295mm diameter silikon ingot) telah dilekatkan. Format 6" M2 (156.75mm x 156.75mm) dijangka diletakkan oleh M12 dan M6.


1      Sifat bahan

 

Hartanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Kaedah pertumbuhan

CZ


Kristalliniti

Monocrystalline

 

Teknik Etch keutamaanASTM F47-88

Jenis kekeliritian

Jenis P

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant

 

Boron, Gallium

 

-

Kepekatan oksigen[Oi]

≦8E+17 at/cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Kepekatan karbon[Cs]

5E+16 at/cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Ketumpatan lubang Etch (ketumpatan dislocation)

500 sm-3

Teknik Etch keutamaanASTM F47-88

Orientasi permukaan

<100>±3°

Kaedah Perencanaan X-ray (ASTM F26-1987)

Orientasi sisi persegi pseudo

<010>,<001>±3°

Kaedah Perencanaan X-ray (ASTM F26-1987)

 

2      Sifat elektrik

 

Hartanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Rintangan

0.5-1.5 Ωcm

Sistem pemeriksaan wafer

MCLT (seumur hidup pembawa minoriti)

50 μs

Sinton BCT-400

(dengan tahap suntikan: 1E15 Cm-3)

 

3      Geometri

 

Hartanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Geometri

Dataran penuh


Panjang sisi wafer

210±0.25 mm

sistem pemeriksaan wafer

Wafer Diameter

φ295±0.25 mm

sistem pemeriksaan wafer

Sudut antara sisi bersebelahan

90° ± 0.2°

sistem pemeriksaan wafer

Ketebalan

18020/10 μm;

17020/10 μm

sistem pemeriksaan wafer

TTV (Jumlah ketebalan variasi)

27 μm

sistem pemeriksaan wafer


 210mmx210mm M12 monocrystalline silicon solar wafer

 

 

4      Sifat permukaan

 

Hartanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Kaedah memotong

Dw

--

Kualiti permukaan

seperti dipotong dan dibersihkan, tiada pencemaran yang kelihatan, (minyak atau gris, cetakan jari, kotoran sabun, kotoran bubur, kotoran epoksi / gam tidak dibenarkan)

sistem pemeriksaan wafer

Lihat markah / langkah

≤ 15μm

sistem pemeriksaan wafer

Tunduk

≤ 40 μm

sistem pemeriksaan wafer

Meledingkan

≤ 40 μm

sistem pemeriksaan wafer

Cip

kedalaman ≤0.3mm dan panjang ≤ 0.5mm Max 2/pcs;   tiada V-cip

Mata kasar atau sistem pemeriksaan wafer

Retak mikro / lubang

Tidak dibenarkan

sistem pemeriksaan wafer




Cool tags: p jenis m12 monocrystalline solar wafer, China, pembekal, pengeluar, kilang, dibuat di China

Hantar pertanyaan
Hantar pertanyaan