P Jenis M10 Monokristalin Solar Wafer

P Jenis M10 Monokristalin Solar Wafer
pengenalan produk:
M10 dengan dimensi wafer solar silikon monokristal 182mmx182mm dengan diameter 247mm boleh menjadikan sel solar berkuasa lebih tinggi.
Hantar pertanyaan
Berbual sekarang
Description/kawalan
Parameter teknikal


158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


Wafer solar silikon monokristal 210mmx210mm M12 dengan diameter 295mm adalah 80.5% lebih besar daripada wafer M2.


1 Sifat bahan

Harta tanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Kaedah pertumbuhan

CZ


Penghabluran

Monokristalin

Teknik Etika KeutamaanASTM F47-88

Jenis kekonduksian

Jenis P

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant

Boron, Gallium

-

Kepekatan oksigen [Oi]

≦8E+17 pada / cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Kepekatan karbon [Cs]

5E+16 pada / cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Ketumpatan lubang etch (ketumpatan dislokasi)

500 sm-3

Teknik Etika KeutamaanASTM F47-88

Orientasi permukaan

& lt; 100> ± 3 °

Kaedah Difraksi sinar-X (ASTM F26-1987)

Orientasi sisi persegi pseudo

& lt; 010> ;,< 001=""> ± 3 °

Kaedah Difraksi sinar-X (ASTM F26-1987)

2 Sifat elektrik

Harta tanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Ketahanan

0.5-1.5 Ωcm

Sistem pemeriksaan wafer

MCLT (seumur hidup pembawa minoriti)

50 μs

Sinton BCT-400

(dengan tahap suntikan: 1E15 cm-3)

3Geometri

Harta tanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Geometri

Petak penuh


Panjang sisi Wafer

182 ± 0.25 mm

sistem pemeriksaan wafer

Diameter Wafer

φ247 ± 0.25 mm

sistem pemeriksaan wafer

Sudut antara sisi bersebelahan

90° ± 0.2°

sistem pemeriksaan wafer

Ketebalan

18020/10 µm;

17020/10 µm

sistem pemeriksaan wafer

TTV (Variasi ketebalan total)

27 µm

sistem pemeriksaan wafer


image

4 Sifat permukaan

Harta tanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Kaedah memotong

DW

--

Kualiti permukaan

seperti dipotong dan dibersihkan, tidak ada pencemaran yang kelihatan, (minyak atau gris, cap jari, noda sabun, noda buburan, noda epoksi / gam tidak dibenarkan)

sistem pemeriksaan wafer

Melihat tanda / langkah

≤ 15µm

sistem pemeriksaan wafer

Tunduk

≤ 40 µm

sistem pemeriksaan wafer

Meledingkan

≤ 40 µm

sistem pemeriksaan wafer

Kerepek

kedalaman ≤0.3mm dan panjang ≤ 0.5mm Max 2 / pcs; tiada cip V

Sistem pemeriksaan mata kasar atau wafer

Keretakan / lubang mikro

Tidak dibenarkan

sistem pemeriksaan wafer




 

Cool tags: wafer solar monocrystalline jenis p10 m, China, pembekal, pengeluar, kilang, buatan China

Hantar pertanyaan
Bagaimana untuk menyelesaikan masalah kualiti selepas jualan?
Ambil gambar masalah dan hantar kepada kami. Selepas mengesahkan masalah, kami
akan membuat penyelesaian yang memuaskan untuk anda dalam masa beberapa hari.
hubungi kami