Jenis N 156.75mm Monocrystalline Solar Wafer

Jenis N 156.75mm Monocrystalline Solar Wafer

Fakta bahawa teknologi sel yang mempunyai kecekapan tertinggi dalam pengeluaran industri berdasarkan wafer jenis-n Cz-Si adalah demonstrasi menarik mengapa wafer jenis-n adalah bahan yang paling sesuai untuk sel suria dengan kecekapan tinggi. Dengan lebih terperinci, terdapat beberapa sebab fizikal untuk kelebihan jenis-n berbanding jenis-p.
Share to
Hantar pertanyaan
Berbual sekarang
Description/kawalan
Parameter teknikal

CZ silicon crystal growth


Monocrystalline wafer 1


Fakta bahawa teknologi sel yang menunjukkan kecekapan tertinggi dalam pengeluaran industri berdasarkan wafer jenis N Cz-Si adalah demonstrasi yang mengejutkan mengapa wafer jenis-n adalah bahan yang paling sesuai untuk sel suria dengan kecekapan tinggi. Dengan lebih terperinci, terdapat beberapa sebab fizikal untuk kelebihan jenis N berbanding jenis P, yang paling penting adalah:

  • kerana ketiadaan boron, tidak ada degradasi disebabkan cahaya (LID) yang terjadi pada wafer Si tipe-p, kerana kompleks oksigen boron

  • kerana N jenis Si kurang sensitif terhadap kekotoran logam yang menonjol, secara amnya panjang penyebaran pembawa minoriti dalam jenis-n Cz-Si jauh lebih tinggi berbanding dengan p-jenis Cz-Si

  • N jenis Si kurang terdedah kepada penurunan semasa proses suhu tinggi seperti penyebaran B.

1 Sifat bahan

Harta tanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Kaedah pertumbuhan

CZ


Penghabluran

Monokristalin

Teknik Etika KeutamaanASTM F47-88

Jenis kekonduksian

Jenis-N

Napson EC-80TPN

Dopant

Fosforus

-

Kepekatan oksigen [Oi]

8E+17 pada / cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Kepekatan karbon [Cs]

5E+16 pada / cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Ketumpatan lubang etch (ketumpatan dislokasi)

500 sm-3

Teknik Etika KeutamaanASTM F47-88

Orientasi permukaan

& lt; 100> ± 3 °

Kaedah Difraksi sinar-X (ASTM F26-1987)

Orientasi sisi persegi pseudo

& lt; 010> ;,< 001=""> ± 3 °

Kaedah Difraksi sinar-X (ASTM F26-1987)

2 Sifat elektrik

Harta tanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Ketahanan

0.2-2.0 Ω.cm

0.5-3.5 Ω.cm

1.0-7.0 Ω.cm

1.5-12 Ω.cm

Ketahanan lain

Sistem pemeriksaan wafer

MCLT (seumur hidup pembawa minoriti)

1000 μs (Ketahanan> 1Ωcm)
500 μs (Ketahanan<>Ωcm)

Sinton sementara

3 Geometri

Harta tanah

Spesifikasi

Kaedah Pemeriksaan

Geometri

Dataran semu


Bentuk tepi serong

Bulat


Saiz wafer

(Panjang sisi * panjang sisi * diameter

M0: 156*156*ϕ210 mm

M1: 156.75*156.75* ϕ205mm

M2: 156.75*156.75* ϕ210 mm

Sistem pemeriksaan wafer

Sudut antara sisi bersebelahan

90±3°

Sistem pemeriksaan wafer


image




Cool tags: N Type 156.75mm Monocrystalline Solar Wafer, China, pembekal, pengeluar, kilang, buatan China

Hantar pertanyaan
Hantar pertanyaan