Bagi wafer mono-Si, dataran penuh 158.75mm akan menjadi reka bentuk yang paling banyak diterima pakai menjelang separuh kedua tahun ini. Hanya beberapa pengeluar menggunakan wafer yang lebih besar daripada ini. LG dan Hanwha Q Cells, misalnya, gunakan wafer M4 (161.7mm), manakala Longi mempromosikan wafer 166mm.
Full Square Mono Wafers yang canggih telah memaksimumkan pendedahan cahaya kepada tahap yang sama pelbagai wafer dengan memperluaskan langkah persegi. Wafer sentiasa dataran sepenuhnya supaya mereka sesuai dengan modul PV dengan cara yang optimum.
1 Sifat bahan
Hartanah | Spesifikasi | Kaedah Pemeriksaan |
Kaedah pertumbuhan | CZ | |
Kristalliniti | Monocrystalline | Teknik Etch keutamaan（ASTM F47-88） |
Jenis kekeliritian | Jenis N | Napson EC-80TPN |
Dopant | Fosforus | - |
Kepekatan oksigen[Oi] | ≦8E+17 at/cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Kepekatan karbon[Cs] | ≦5E+16 at/cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Ketumpatan lubang Etch (ketumpatan dislocation) | ≦500 sm-3 | Teknik Etch keutamaan（ASTM F47-88） |
Orientasi permukaan | <100>±3° | Kaedah Perencanaan X-ray (ASTM F26-1987) |
Orientasi sisi persegi pseudo | <010>,<001>±3° | Kaedah Perencanaan X-ray (ASTM F26-1987) |
2 Sifat elektrik
Hartanah | Spesifikasi | Kaedah Pemeriksaan |
Rintangan | 0.3-2.1 Ω.cm 1.0-7.0 Ω.cm | Sistem pemeriksaan wafer |
MCLT (seumur hidup pembawa minoriti) | ≧1000 μs (Rintangan 0.3-2.1 Ω.cm) | Sinton teladan |
3 Geometri
Hartanah | Spesifikasi | Kaedah Pemeriksaan |
Geometri | Dataran penuh | |
Panjang sisi wafer | 158.75±0.25 mm | sistem pemeriksaan wafer |
Wafer Diameter | φ223±0.25 mm | sistem pemeriksaan wafer |
Sudut antara sisi bersebelahan | 90° ± 0.2° | sistem pemeriksaan wafer |
Ketebalan | 180﹢20/﹣10 μm; 170﹢20/﹣10 μm | sistem pemeriksaan wafer |
TTV (Jumlah ketebalan variasi) | ≤27 μm | sistem pemeriksaan wafer |
4 Sifat permukaan
Hartanah | Spesifikasi | Kaedah Pemeriksaan |
Kaedah memotong | Dw | -- |
Kualiti permukaan | seperti dipotong dan dibersihkan, tiada pencemaran yang kelihatan, (minyak atau gris, cetakan jari, kotoran sabun, kotoran bubur, kotoran epoksi / gam tidak dibenarkan) | sistem pemeriksaan wafer |
Lihat markah / langkah | ≤ 15μm | sistem pemeriksaan wafer |
Tunduk | ≤ 40 μm | sistem pemeriksaan wafer |
Meledingkan | ≤ 40 μm | sistem pemeriksaan wafer |
Cip | kedalaman ≤0.3mm dan panjang ≤ 0.5mm Max 2/pcs; tiada V-cip | Mata kasar atau sistem pemeriksaan wafer |
Retak mikro / lubang | Tidak dibenarkan | sistem pemeriksaan wafer |
Cool tags: n jenis 158.75mm monocrystalline solar wafer, China, pembekal, pengeluar, kilang, dibuat di China
